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【2h】

Thin Film Characterization Using Rotating Polarizer Analyzer Ellipsometer with a Speed Ratio 1:3

机译：使用转速比为1：3的旋转偏振分析仪椭偏仪进行薄膜表征

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Sofyan A. Taya; Taher M. El-Agez; Anas A. Alkanoo;
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年度 2011
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1. Thin Film Characterization Using Rotating Polarizer Analyzer Ellipsometer with a Speed Ratio 1:3 [J] . Sofyan A. Taya, Taher M. El-Agez, Anas A. Alkanoo Journal of Electromagnetic Analysis and Applications . 2011,第9期

机译：使用转速比为1：3的旋转偏振分析仪椭偏仪进行薄膜表征
2. Noise Effect on Thin Film Characterization Using Rotating Polarizer Analyzer Ellipsometer [J] . T.M. El-Agez, S.A. Taya Acta Physica Polonica . 2012,第1期

机译：旋转偏振分析仪椭偏仪对薄膜表征的噪声影响
3. Effect of the orientation of the fixed analyzer on the ellipsometric parameters in rotating polarizer and compensator ellipsometer with speed ratio 1:1 [J] . Anas A. Alkanoo, Sofyan A. Taya, Taher M. El-Agez Optical and quantum electronics . 2015,第7期

机译：固定分析仪的定位对转速比为1：1的旋转偏振片和补偿椭圆仪中椭圆参数的影响
4. Simple and Low-Cost Rotating Analyzer Ellipsometer (RAE) for Wavelength Dependent Optical Constant Characterization of Novel Materials [C] . Asmida Herawati, Riza Ariyani Nur Khasanah, Lucky Zaehir Maulana International Conference on Science and Technology . 2020

机译：简单且低成本旋转分析仪椭圆仪（RAE），用于波长依赖性光学常数表征新型材料
5. Characterization of a rotating polarizer and analyzer ellipsometer for the study of plasma polymerized films. [D] . El-Agez, Taher Mohammed. 1999

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6. On the Preparation and Testing of Fuel Cell Catalysts Using the Thin Film Rotating Disk Electrode Method [O] . Masanori Inaba, Jonathan Quinson, Jan Rudolf Bucher, 2018

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